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    介電常數介質損耗測試儀

    簡要描述:介電常數介質損耗測試儀由HJS-I型高頻Q表、AS916測試裝置(夾具)、數據采集和tanδ自動測量控件(裝入HJS-I型高頻Q表軟件模塊)、及HLKI-1型電感器組, 液體杯(可選,用于測試液態材料)組成。
    高頻介質損耗(介電常數)測試系統依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提

    • 產品型號:HJS-I
    • 廠商性質:生產廠家
    • 更新時間:2024-06-04
    • 訪  問  量: 2131

    詳細介紹

    介電常數介質損耗測試系統方案

    高頻介質損耗(介電常數)測試系統由HJS-I型高頻Q表、AS916測試裝置(夾具)、數據采集和tanδ自動測量控件(裝入HJS-I型高頻Q表軟件模塊)、及HLKI-1型電感器組, 液體杯(可選,用于測試液態材料)組成。

    介電常數介質損耗測試儀依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的最佳解決方案。

    介電常數介質損耗測試儀配置方案如下表:

    主機

    HJS-I高頻Q

    測試裝置

    AS916

    HLKI-1型電感器組

    9

    試驗液體杯

    可選

                                             

    1 HJS-A+AS916+HLKI-1電感組配置及參數:

             

    測試頻率范圍

    10KHz-70MHz, LCD顯示,6位有效數 ,DDS數字合成

    Q值測量范圍

    1~1000四位數顯,±0.1Q分辨率

    可調電容范圍

    28490pF 0.1pF分辨率

    電容測量誤差

    ±0.5%±0.5pF

    Q表殘余電感值

    20nH

    AS916測試裝置

    屏幕5位數顯,極片為φ38和φ50二選一,支持液體杯測試, 液體杯測試極片為φ38

    數據采集和tanδ自動測量控件

    支持

    技術參數

    1Q值測量

      aQ值測量范圍:21023

      bQ值量程分檔:30、100300、1000、自動換檔或手動換檔。

      c.標稱誤差

    頻率范圍         10kHz10MHz;

    固有誤差        5%±滿度值的2%;

    工作誤差        7%±滿度值的2%;

    頻率范圍          10MHz70MHz;

    固有誤差         6%±滿度值的2%;

    工作誤差        8%±滿度值的2%。

    2)電感測量范圍:14.5nH~8.14H

    3)電容測量:1~ 460

       

    直接測量范圍  1460pF

    主電容調節范圍  30500pF

        150pF以下±1pF;

    150pF以上±1

    4)信號源頻率覆蓋范圍

       

    頻率范圍 10kHz70MHz

    頻率分段(虛擬)     1099.9999kHz

    100999.999kHz

    19.99999MHz

    1070MHz    

    頻率指示誤差              3×10-5±1個字

    5Q合格指示預置功能

      預置范圍:51000

    6Q表正常工作條件

        a.  環境溫度:0℃~+40℃;  

    b.相對濕度:<80%;  

    c.電源:220V±22V50Hz±2.5Hz。

    4、設備配置:

    a.測試主機一臺;

    b.電感9只;

    c.夾具一套  



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