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HJS-I介質損耗（介電常數）測試系統

      

      


      高頻介質損耗（介電常數）測試系統依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值（tanδ）和介電常數（ε）自動測量的*佳解決方案。
      

      

      時間：2024-06-04
      

      型號：HJS-I
      

      廠商性質：生產廠家
      

      瀏覽量：3123
      

      

      

      

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